MV-CH210-90QM-M58S-NF
Характеристики
Модель
—
MV-CH210-90QM-M58S-NF
Интерфейс
—
QSFP*2
Крепление под объектив
—
M58
Мегапиксели
—
21.0
Цветность
—
Монохромная
Камера машинного зрения HIK Robot
Гарантия 1 год
Указанные цены включают НДС 20% и не включают стоимость доставки по России.
|
Модель
|
MV-CH210-90QM-M58S-NF |
|
Интерфейс
|
QSFP*2 |
|
Крепление под объектив
|
M58 |
|
Мегапиксели
|
21.0 |
|
Цветность
|
Монохромная |
|
Производитель сенсора
|
GPIXEL |
|
Модель сенсора
|
GSPRINT4521 |
|
Разрешение
|
5120 x 4096 |
|
Тип сенсора
|
CMOS |
|
Тип затвора
? Global - общее , кадровое экспонирование Rolling - построчное экспонирование |
Global Shutter |
|
Диагональ сенсора
? Оптический размер сенсора 1"=16.0мм |
23.04 x 18.43(29.5)mm |
|
Размеры сенсора(mm)
? Размеры сенсора в мм |
23.04 x 18.43 |
|
Размер пикселя
? Размер пикселя в мкм |
4.5um |
|
Скорость съёмки в полный кадр
|
222fps |
Закажите камеру машинного зрения MV-CH210-90QM-M58S-NF-TF в компании CameraLab с официальной гарантией от производителя, быстрой доставкой по России и профессиональной консультацией по выбору оборудования для систем машинного зрения.
MV-CH210-90QM-M58S-NF - монохромная камера с разрешением 21.0 Мп, высокоскоростным интерфейсом QSFP*2 и адаптером объектива M58*0.75. Оснащена сенсором GPIXEL GSPRINT 4521 с размером пикселя 4.5 мкм и глобальным затвором. Обеспечивает скорость съемки в полном разрешении 222 кадра/с. Корпус камеры оснащен системой пассивного охлаждения.
Идеально подходит для контроля динамичных процессов. Может применяться для высокоскоростного контроля в автомобильной промышленности, инспекции полупроводниковых пластин, различных аэрокосмических применений.
MV-CH210-90QM-M58S-NF - монохромная камера с разрешением 21.0 Мп, высокоскоростным интерфейсом QSFP*2 и адаптером объектива M58*0.75. Оснащена сенсором GPIXEL GSPRINT 4521 с размером пикселя 4.5 мкм и глобальным затвором. Обеспечивает скорость съемки в полном разрешении 222 кадра/с. Корпус камеры оснащен системой пассивного охлаждения.
Идеально подходит для контроля динамичных процессов. Может применяться для высокоскоростного контроля в автомобильной промышленности, инспекции полупроводниковых пластин, различных аэрокосмических применений.
