MV-CB120-10UM-C
Характеристики
Модель
—
MV-CB120-10UM-C
Интерфейс
—
USB 3.0
Крепление под объектив
—
C-mount
Мегапиксели
—
12.0
Цветность
—
Монохромная
Камера машинного зрения HIK Robot
Гарантия 1 год
Указанные цены включают НДС 20% и не включают стоимость доставки по России.
Модель
|
MV-CB120-10UM-C |
Интерфейс
|
USB 3.0 |
Крепление под объектив
|
C-mount |
Мегапиксели
|
12.0 |
Цветность
|
Монохромная |
Производитель сенсора
|
Sony |
Модель сенсора
|
IMX226 |
Разрешение
|
4024 x 3036 |
Тип сенсора
|
CMOS |
Тип затвора
? Global - общее , кадровое экспонирование Rolling - построчное экспонирование |
Rolling Shutter |
Диагональ сенсора
? Оптический размер сенсора 1"=16.0мм |
1/1.7 |
Размеры сенсора(mm)
? Размеры сенсора в мм |
7.46 x 5.62 |
Размер пикселя
? Размер пикселя в мкм |
1.85um |
Скорость съёмки в полный кадр
|
28fps |
Размер камеры
|
35 × 35 × 8.6 |
Закажите камеру машинного зрения MV-CB120-10UM-C в компании CameraLab с официальной гарантией от производителя, быстрой доставкой по России и профессиональной консультацией по выбору оборудования для систем машинного зрения.
MV-CB120-10UM-C - монохромное исполнение модели камеры MV-CB120-10UC-C с разрешением 12 Мп, интерфейсом USB3 и адаптером объектива C - Mount. Камера оснащена сенсором SONY IMX226 с диагональю 1/1.7", размером пикселя 1.85 мкм и строковым затвором. Частота кадров в полном разрешении равна 28 кадрам/с. Совместима с протоколом USB3 Vision V2.0 и стандартом GenlCam.
Может применяться для контроля качества различных производственных изделий, таких как электроника и полупроводники, в целях автоматизации различных производственных и логистических задач, лабораторных исследований.
MV-CB120-10UM-C - монохромное исполнение модели камеры MV-CB120-10UC-C с разрешением 12 Мп, интерфейсом USB3 и адаптером объектива C - Mount. Камера оснащена сенсором SONY IMX226 с диагональю 1/1.7", размером пикселя 1.85 мкм и строковым затвором. Частота кадров в полном разрешении равна 28 кадрам/с. Совместима с протоколом USB3 Vision V2.0 и стандартом GenlCam.
Может применяться для контроля качества различных производственных изделий, таких как электроника и полупроводники, в целях автоматизации различных производственных и логистических задач, лабораторных исследований.